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X-RAY镀层测厚仪
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什么是X-RAY测厚仪,它采用X射线荧光光谱法,仪器通过X射线原理,可快速、非破坏无损检测、准确测量金属底材或非金属底材上的金属镀层。可测13号铝元素到92号铀元素进行无损测量分析,根据镀层种类和结构的不同,一般的可测量厚度范围从几个纳米到100微米不等,最多可测5层(4层镀层+底层),每层最多可含10种元素,可同时分析合金材料内最多25种元素含量。

博曼致力于提供前沿的分析解决方案,来满足全球制造企业、电镀企业和经销商,所有产品产于美国。目前,在全球四大洲20余个国家建立销售和服务网络,为客户提供灵活高效的镀层厚度测量和元素分析方案,热情的服务和高效团队为品质保驾护航。
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